[发明专利]用于多分量基准面校正的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201380075856.9 申请日: 2013-02-22
公开(公告)号: CN105209934B 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: R.I.布卢尔 申请(专利权)人: 离子地球物理学公司
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36;G01V1/38
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李晨;董均华
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了用于对多分量地震数据进行基本面校正的方法、设备和系统。在这种方法的一个示例中,访问多个地震迹线,所述多个地震迹线包括代表在介质中的多个记录位置处的地震波场的振幅样本和空间梯度样本的数据。使用基于计算机的处理单元,使用所述地震波场的所述振幅样本和所述空间梯度样本来初始化从所述多个记录位置通过介质的波场传播。生成与在所述介质内的限定位置处传播的波场相对应的地震迹线。
搜索关键词: 用于 分量 基准面 校正 方法 设备
【主权项】:
1.一种用于对在地球物理调查中获得的多分量地震数据进行处理的方法,所述方法包括:访问多个地震迹线,所述多个地震迹线包括代表在介质中的多个记录位置处的地震波场的振幅样本和空间梯度样本的数据,所访问的地震迹线中的至少一些地震迹线包括根据时间记录的压力迹线和根据时间针对每个记录位置记录的多个质点运动迹线;使用基于计算机的处理单元,使用所述地震波场的所述振幅样本和所述空间梯度样本开始从所述多个记录位置通过介质的波场传播;生成与在所述介质内的限定位置处传播的波场相对应的地震迹线,其中,在所述多个质点运动迹线中的数据表示在所述介质中的所述多个记录位置处的所述地震波场的所述空间梯度样本,其中,每个生成的地震迹线对应于在一个或者多个时间实例处的所述介质内的所述限定位置中的一个,其中,所述限定位置设置在网格状基准面层中,以及其中,所述限定位置中的至少一些限定位置在所述介质内在深度上偏离所述多个记录位置中的至少一些记录位置。
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