[发明专利]表面电位分布测量装置有效
申请号: | 201380074773.8 | 申请日: | 2013-03-19 |
公开(公告)号: | CN105102997B | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | 古川真阳;坪井雄一;吉满哲夫;熊田亚纪子;日高邦彦;池田久利 | 申请(专利权)人: | 东芝三菱电机产业系统株式会社;国立大学法人 东京大学 |
主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种表面电位分布测量装置(70),其包括:激光光源(13)、具有锥面的泡克耳斯晶体(11)、反射镜、对经反射镜反射后的激光的光强进行检测的光检测器(16)、对泡克耳斯晶体(11)进行保持并移动的保持搭载部(30)、电压校正数据库、以及将与测试时输出电压相对应的输入电压确定为电场弛豫系统(3)的表面电位的运算部。泡克耳斯晶体(11)形成为横截面的大小沿着轴方向发生变化,保持搭载部(30)具有:保护泡克耳斯晶体(11)的结构的保护部(31)、为了测量电场弛豫系统(3)的表面电位而使泡克耳斯晶体(11)移动的移动部(35)、(36)、以及控制这些部件的驱动控制部(37)。 | ||
搜索关键词: | 表面电位 分布测量装置 搭载部 反射镜反射 驱动控制部 测量电场 电场弛豫 电压校正 光检测器 激光光源 输出电压 输入电压 保护部 反射镜 移动部 运算部 移动 弛豫 光强 数据库 激光 测试 检测 | ||
【主权项】:
1.一种表面电位分布测量装置,对沿着旋转电机的定子的定子线圈端部即定子线圈端的长边方向设置的电场弛豫系统的表面电位进行测量,其特征在于,包括:激光光源,该激光光源射出激光;泡克耳斯晶体,从所述激光光源射出的所述激光从该泡克耳斯晶体的第1端面入射;反射镜,该反射镜的正面设置于所述泡克耳斯晶体的所述第1端面的相反侧的第2端面,使从所述泡克耳斯晶体的所述第1端面入射的所述激光向所述入射的方向的相反方向反射;光检测器,该光检测器具有跟踪逆变器脉冲电压的高频分量的频带,接受经所述反射镜反射后的所述激光,并检测出与所述泡克耳斯晶体的所述第1端面与所述第2端面之间的电位差即输出电压相对应的所述激光的光强;保持搭载部,该保持搭载部至少对所述泡克耳斯晶体进行保持并移动;电压校正数据库,该电压校正数据库中存储有输入电压对输出电压特性,该输入电压对输出电压特性表示在所述反射镜的背面施加了各个不同的输入电压时各个不同的所述输入电压与所述泡克耳斯晶体的所述输出电压之间的关系;以及运算部,该运算部在所述反射镜的背面将所述电场弛豫系统的一部分表面配置为测试部位时,将所述定子线圈上施加了电压时的所述泡克耳斯晶体的所述输出电压设为测试时输出电压,基于所述电压校正数据库中存储的所述输入电压对输出电压特性,将与所述测试时输出电压相对应的输入电压确定为所述电场弛豫系统的表面电位,所述泡克耳斯晶体形成为垂直于轴方向的截面的大小沿着所述轴方向发生变化,所述保持搭载部具有:对所述泡克耳斯晶体的结构进行保护的保护部;泡克耳斯晶体把持部,该泡克耳斯晶体把持部对所述泡克耳斯晶体进行把持并与所述泡克耳斯晶体作为一体地移动;为了测量所述电场弛豫系统的表面电位而使所述泡克耳斯晶体移动的移动部;以及控制所述移动部的驱动控制部,所述泡克耳斯晶体把持部沿着所述保护部移动,所述保护部形成有移动限制部,该移动限制部限制所述泡克耳斯晶体把持部的移动,以限制所述泡克耳斯晶体的所述第2端部从所述保护部突出。
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