[发明专利]通过坐标测量仪修正计算机断层摄影测量的方法和装置在审
申请号: | 201380058578.6 | 申请日: | 2013-09-09 |
公开(公告)号: | CN104937370A | 公开(公告)日: | 2015-09-23 |
发明(设计)人: | R.克里斯托弗;M.哈默;I.施密特 | 申请(专利权)人: | 沃思测量技术股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01B15/04;G01N23/04;G01T1/29;G06T11/00;A61B6/03;A61B6/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 赵辛;宣力伟 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于修正计算机断层摄影测量的工件的几何尺寸结果的方法和装置,其中在坐标测量仪里面组合计算机断层摄影传感器,它至少由射线源、平面延展的探测器和用于旋转工件或零件的机械旋转轴组成。为了提供简单且成本有利的、用于执行失真修正的方法而建议,通过测量在校准物体与探测器之间的至少两个相对位置中的校准物体修正在探测器上出现的成像误差。 | ||
搜索关键词: | 通过 坐标 测量仪 修正 计算机 断层 摄影 测量 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种用于修正计算机断层摄影测量的物体、如工件或零部件的几何标记或几何尺寸的透视图的方法,其中在坐标测量仪里面组合计算机断层摄影传感器,它至少由射线源和平面延展的探测器和必要时用于旋转物体的机械旋转轴组成,其特征在于,通过测量在校准物体与探测器之间的至少两个相对位置中的校准物体修正在探测器上出现的成像误差,其中从比较由相对位置得到的理论位移与在透视图中出现的实际位移获得修正值。
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