[发明专利]验证装置和方法在审
| 申请号： | 201380053649.3 | 申请日： | 2013-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN104737211A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·斯图尔特 | 申请（专利权）人： | 伊诺维亚薄膜有限公司 |
| 主分类号： | G07D7/12 | 分类号： | G07D7/12 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;刘铮 |
| 地址： | 英国坎*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 验证装置，其进行操作以响应于检测到物品的位于所述装置的测量区域中的部分具有预定双折射特性来判定包括膜基底的物品的真实性，所述验证装置包括：物品检测单元，其进行操作以判定物品的至少一部分是否位于所述验证装置的测量区域中；以及基于光学的双折射测量装置，其中所述验证装置进行操作以比较测量的双折射特性与预定双折射特性并且基于所述比较产生指示所述物品的真实性与否的真实性信号，所述验证装置还包括控制装置，所述控制装置进行操作以响应于所述物品检测单元判定出所述物品的所述至少一部分存在于所述测量区域中与否来控制真实性信号从所述验证装置的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种验证装置，其进行操作以响应于检测到物品的位于所述验证装置的测量区域中的部分具有预定双折射特性来判定包括膜基底的所述物品的真实性，所述验证装置包括：物品检测单元，所述物品检测单元进行操作以判定物品的至少一部分是否位于所述验证装置的测量区域中；以及基于光学的双折射测量装置，其中，所述验证装置进行操作以比较测量的双折射特性与预定双折射特性并基于所述比较产生指示所述物品的真实性与否的真实性信号，所述验证装置还包括控制装置，所述控制装置进行操作以响应于由所述物品检测单元判定出所述物品的所述至少一部分是否存在于所述测量区域中来控制所述真实性信号从所述验证装置的输出。
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