[发明专利]用于校正超声波测试系统中的温度变化的方法和系统无效
申请号: | 201380032509.8 | 申请日: | 2013-05-14 |
公开(公告)号: | CN104380100A | 公开(公告)日: | 2015-02-25 |
发明(设计)人: | N.J.史密斯;J.L.杜布勒 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01N29/32 | 分类号: | G01N29/32;G01N29/07 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;刘春元 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本文公开了用于校正超声波测试系统中的温度变化的方法和系统。在一个实施例中,确定用于校正飞行时间测量的偏置,其中,所述偏置基于在第一校准温度和第二校准温度下的脉冲延迟。在另一个实施例中,确定用于校正飞行时间测量的因数,其中,所述因数基于在第一校准温度和第二校准温度下的时钟信号误差。 | ||
搜索关键词: | 用于 校正 超声波 测试 系统 中的 温度 变化 方法 | ||
【主权项】:
一种对于由超声波测试单元的变化温度引起的变化脉冲延迟,校正由所述超声波测试单元测量的测量飞行时间的方法,所述方法包括步骤:在标准化校准温度下通过确定已知材料和已知厚度的标准化飞行时间校准所述超声波测试单元;在所述超声波测试单元的第一校准温度下确定第一脉冲延迟;在所述超声波测试单元的第二校准温度下确定第二脉冲延迟;以及基于所述第二脉冲延迟和所述第一脉冲延迟之间的差以及所述第二校准温度和所述第一校准温度之间的差,确定飞行时间的脉冲延迟偏置。
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