[发明专利]磁记录介质用溅射靶及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201380013280.3 申请日: 2013-03-01
公开(公告)号: CN104170015B 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 荻野真一;中村祐一郎 申请(专利权)人: 吉坤日矿日石金属株式会社
主分类号: G11B5/851 分类号: G11B5/851;B21B3/00;C22C19/07;C22F1/10;C23C14/34;C22F1/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种磁记录介质用溅射靶,其特征在于,富B相的平均颗粒面积为90μm2以下。一种磁记录介质用溅射靶的制造方法,其特征在于,对合金铸锭进行热处理后,进行至少包含一次以上冷轧的一次轧制,然后进行二次轧制,并对其进行机械加工从而制作靶。本发明得到了在磁记录介质用溅射靶中富B相的破裂少且漏磁通密度高的靶,由此解决如下课题:使溅射时的放电稳定,抑制以富B相的破裂为起点的电弧放电,从而抑制粉粒产生。
搜索关键词: 记录 介质 溅射 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种磁记录介质用溅射靶,其为通过轧制Co‑Pt‑B基锭而得到的溅射靶,其特征在于,包含Pt:1~26原子%、B:1~15原子%、余量为Co和不可避免的杂质,富B相的平均颗粒面积为90μm2以下。
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