[实用新型]一种基于MIE散射理论的激光粒度仪有效
| 申请号： | 201320812021.4 | 申请日： | 2013-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN203587476U | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 任中京;于代君 | 申请（专利权）人： | 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 山东众成仁和律师事务所 37229 | 代理人： | 牟迅 |
| 地址： | 250000 山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 一种基于MIE散射理论的激光粒度仪，包括激光器，激光器的后端按照激光光路的前进方向依次设置有傅里叶变换镜头、样品测试窗口、光电阵列探测器，还包括辅助光电探测器5，所述辅助光电探测器5设置在所述样品测试窗口3与所述光电阵列探测器4之间并与激光光路主轴平行。本实用新型是基于MIE散射理论的激光粒度仪，代替以往的由半导体或气体激光器、扩束镜、空间滤波器组成光源系统的激光粒度仪，克服了以往光路调试对扩束镜及空间滤波器性能要求过高但同时又很难满足的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 mie 散射 理论 激光 粒度 | ||
【主权项】：
一种基于MIE散射理论的激光粒度仪，包括激光器，激光器的后端按照激光光路的前进方向依次设置有傅里叶变换镜头（2）、样品测试窗口（3）、光电阵列探测器（4），其特征在于，所述激光粒度仪还包括辅助光电探测器（5），所述辅助光电探测器（5）设置在所述样品测试窗口（3）与所述光电阵列探测器（4）之间并与激光光路主轴平行。
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