[实用新型]观察图形光谱的天文滤光片有效
| 申请号： | 201320777825.5 | 申请日： | 2013-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN203551821U | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 吕晶;王继平;胡伟琴 | 申请（专利权）人： | 杭州麦乐克电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G02B5/20 | 分类号： | G02B5/20;G01J5/08 |
| 代理公司： | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人： | 周豪靖 |
| 地址： | 311188 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型所设计的一种信噪比高、稳定性好、有效提高物体温度测量分辨能力和检测精度使用要求的观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，该观察图形光谱的天文滤光片，通过上述的设计，实现了稳定性好，且能适用于物体的温度感应和测量，该滤光片3200～4500nm、Tavg≥90％，2000～2800nm、Ravg≤90%，大大提高了信噪比，在用于物体温度的测量和感应时，能有效的提高分辨能力和检测精度，更好的满足实际中的使用要求。 | ||
| 搜索关键词： | 观察 图形 光谱 天文 滤光 | ||
【主权项】：
一种观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、171nm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、481nm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州麦乐克电子科技有限公司，未经杭州麦乐克电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320777825.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种智能电视无线工作站的数据传输方法和装置
- 下一篇：防霉织物的生产工艺
