[实用新型]一种X射线衍射仪试样座有效

专利信息
申请号: 201320451301.7 申请日: 2013-07-26
公开(公告)号: CN203365353U 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 王志奋;周元贵;刘敏;王俊霖;陈士华;吴立新;张萍;周顺兵;张彦文;许竹桃 申请(专利权)人: 武汉钢铁(集团)公司
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 钟锋
地址: 430080 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型公开了一种用于进行X射线衍射测量时固定试样的试样座,以解决目前大尺寸不规则试样测量时难以固定、易发生倾斜的问题。它由矩形基架、固定螺丝和调高螺丝组成,固定螺丝和调高螺丝分别穿过矩形基架上、下边框并相对布置2-5个,从而将试样夹在矩形基架中间,调高螺丝的高度可上下调整,以调整试样在矩形基架中的位置。本实用新型易于固定试样成要求的角度,而且安装和操作过程简单,提高了X射线衍射分析的准确性。
搜索关键词: 一种 射线 衍射 试样
【主权项】:
一种X射线衍射仪试样座,其特征在于:它由矩形基架、固定螺丝和调高螺丝组成,固定螺丝和调高螺丝分别穿过矩形基架上、下边框并相对布置,从而将试样夹在矩形基架中间,调高螺丝的高度可上下调整,以调整试样在矩形基架中的位置。
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