[实用新型]一种X射线衍射仪试样座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于进行X射线衍射测量时固定试样的试样座。 

背景技术

X射线衍射技术已广泛用于晶体结构分析、晶格常数计算，以及薄膜厚度测定、晶粒大小测量和宏观内应力测量等，成为物理学、化学、材料科学、地质以及生物学等许多领域必不可少的测量与分析手段。

一般的X射线衍射仪可以用来测量粉末样品与块状样品。对粉末样品进行测量时，只需样品的粒径在5μm左右，样品的量足够即可。而测量块状样品时，一般用橡皮泥将样品贴在铝制样品架上，一般铝制样品架厚度为1.5mm，样品架上有18mm×20mm的矩形空洞用来安装样品，对于超过铝制样品架矩形空洞尺寸的大尺寸试样进行X射线衍射测量时，则将试样直接用橡皮泥粘于X射线衍射仪的试样台上。但是这样的方法在X射线衍射测量过程中存在以下一些问题：1、当试样尺寸较大且不规则时，试样固定不方便，必须通过橡皮泥等将其粘到试样台上，这样可能由于粘得不牢固，在测量过程中由于样品台转动而导致试样发生倾斜等情况；2、由于试样直接放置在试样台上，要求其被测试平面必须与样品台方向严格一致，这样才能产生正确的X射线衍射峰，保证采集数据正确，而对于大尺寸不规则试样很难做到这一点，从而造成测量误差。 

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术缺陷，提供一种用于大尺寸不规则试样的X射线衍射仪试样座。

本实用新型的技术方案是这样实现的：一种X射线衍射仪试样座，其在于：它由矩形基架、固定螺丝和调高螺丝组成，固定螺丝和调高螺丝分别穿过矩形基架上、下边框并相对布置，从而将试样夹在矩形基架中间，调高螺丝的高度可上下调整，以调整试样在矩形基架中的位置。

优选的，固定螺丝和调高螺丝分别在矩形基架上、下边框相对布置2-5个。

本实用新型主要技术特点如下：

1、试样座窗口可以根据放置大尺寸试样需要设计成较大尺寸，通过调高螺丝和固定螺丝一起固定试样，这样即使是不规则试样也不会在测量过程中由于样品台转动而发生试样倾斜问题；

2、通过调高螺丝可以调节试样在试样座窗口中的位置，可以对指定区域进行测量；

3、预先试样被测平面与试样座的外平面均水平放置在玻璃板上，经过螺丝固定后，再将试样座放置于设备试样台上，保证测量时试样被测平面与设备的试样台成严格的平行角度。

本试样座安装和操作过程简单，克服了常规试样座对大尺寸试样固定的缺陷，提高了X射线衍射分析的准确度。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图。

图2是本实用新型工作示意图。

图中，1-矩形基架；2-调高螺丝；3-固定螺丝；4-玻璃板；5-试样。

具体实施方式

下面结合附图作进一步描述：

如图1、图2所示，一种X射线衍射仪试样座，其在于：它由矩形基架1、固定螺丝3和调高螺丝2组成，固定螺丝3和调高螺丝2分别穿过矩形基架1上、下边框，并分别在矩形基架1上、下边框相对布置3个，从而将试样5夹在矩形基架1中间，调高螺丝2的高度可上下调整，以调整试样5在矩形基架1中的位置。

主要工作步骤如下：

1）将本实用新型平放在玻璃板4上，被测试样5放置于矩形基架1的窗口中；

2）调节调高螺丝2，将试样5被测平面调节到合适测量位置，用固定螺丝3和调高螺丝2夹持固定；

3）将本实用新型连同试样5一起放置于X射线衍射仪的试样台上，用橡皮泥进行固定；

4）完成设备参数设置，进行X射线衍射的测量。