[实用新型]测试电路及测试装置有效
| 申请号： | 201320268681.0 | 申请日： | 2013-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN203241477U | 公开（公告）日： | 2013-10-16 |
| 发明（设计）人： | 郭会斌;刘晓伟 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08;G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试电路及测试装置，以解决现有的方块电阻测试子电路不能确定未与待检测导电薄膜接触的探针，无法完成方块电阻的测试以及实现对导电薄膜生产过程中膜厚均匀性监控问题。本实用新型提供的一种测试电路，包括方块电阻测试子电路，方块电阻测试子电路中包括电流源，还包括：与所述方块电阻测试子电路连接的探针，以及设置于所述电流源与所述探针之间的第一开关控制电路；还可包括第二开关控制电路和探测电路，所述探测电路包括有电流源。通过第一开关控制电路和/或第二开关控制电路控制与其连接的探针通电与否，分别确定出与待检测导电薄膜导通的探针和未导通的探针，进而能够确定通电的探针与待检测导电薄膜的接触特性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 装置 | ||
【主权项】：
一种测试电路，应用于方块电阻测试，包括方块电阻测试子电路，所述方块电阻测试子电路中包括电流源，其特征在于，还包括：与所述方块电阻测试子电路连接的探针，以及设置于所述电流源与所述探针之间的第一开关控制电路；其中，所述第一开关控制电路用于控制是否将方块电阻测试子电路电流源信号输入至与其连接的探针。
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