[实用新型]一种内置测试信号单元的OLED显示模组有效
| 申请号： | 201320039356.7 | 申请日： | 2013-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN203242300U | 公开（公告）日： | 2013-10-16 |
| 发明（设计）人： | 田朝勇;周刚 | 申请（专利权）人： | 四川虹视显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/32 |
| 代理公司： | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人： | 周永宏 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型为了解决现有的OLED测试工序效率低下和生产效率及良率不高的问题，提出了一种内置测试信号单元的OLED显示模组，包括OLED显示屏和驱动IC，所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU，其特征在于，所述驱动IC还包括一信号发生单元，所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接，用于提供OLED显示屏测试用信号，本实用新型的有益效果：本实用新型的OLED显示模组通过在OLED模组的驱动IC中嵌入信号发生单元，使进行OLED显示效果检测工序无需外接复杂的电源及信号发生器等模块，简化了OLED显示效果检测工序，降低了检测难度同时提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内置 测试 信号 单元 oled 显示 模组 | ||
【主权项】：
一种内置测试信号单元的OLED显示模组，包括OLED显示屏和驱动IC，所述驱动IC包括显示数据存储器DDRAM和输入接口MCU，其特征在于，所述驱动IC还包括一信号发生单元，所述信号发生单元与输入接口MCU和显示数据存储器DDRAM连接，用于提供OLED显示屏测试用信号。
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