[实用新型]一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的装置有效

专利信息
申请号: 201320014531.7 申请日: 2013-01-11
公开(公告)号: CN203163700U 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 朱时军;刘琳;陈亚红;蔡阳健 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01B11/255 分类号: G01B11/255;G01J11/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的装置,其特征在于:它包括部分相干高斯光束波前相位产生装置、光束的横向束腰宽度测量装置和光束的横向相干宽度测量装置;所述的部分相干高斯光束波前相位产生装置包括:沿光路方向依次设置的激光器、线偏器、反射镜、薄透镜、聚焦面、准直透镜、高斯振幅滤波片和聚焦透镜;所述的横向束腰宽度测量装置为光束分析仪;所述的横向相干宽度测量装置,光束待测面后依次放置成像透镜、分束镜和关联器系统,待测面放置在成像透镜前2f处;光束分析仪和关联器系统的输出端与计算机连接。本实用新型可测量部分相干光束的波前曲率半径。
搜索关键词: 一种 测量 部分 相干 光束 相位 半径 装置
【主权项】:
一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的装置,其特征在于:它包括部分相干高斯光束波前相位产生装置、光束的横向束腰宽度测量装置和光束的横向相干宽度测量装置;所述的部分相干高斯光束波前相位产生装置包括:沿光路方向依次设置的激光器(1)、线偏器(2)、反射镜(3)、薄透镜(4)、聚焦面(5)、准直透镜(6)、高斯振幅滤波片(7)和聚焦透镜(8);所述的横向束腰宽度测量装置为光束分析仪(9);所述的横向相干宽度测量装置,光束待测面后依次放置成像透镜(11)、分束镜(12)和关联器系统(13),待测面放置在成像透镜(11)前2f处;光束分析仪(9)和关联器系统(13)的输出端与计算机(10)连接。
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