[发明专利]光谱检测装置

摘要

一种光谱检测装置，用于检测样品的光谱，所述光谱检测装置包括基座、发射器、探测器及光谱检测模块，所述发射器、探测器及光谱检测模块均安装于所述基座上，所述样品置于所述光谱检测模块内，所述发射器发射电磁波，所述电磁波进入所述光谱检测模块并在所述样品表面反射或透射后从所述光谱检测模块出射，出射后的电磁波被所述探测器接收以检测所述样品的反射光谱或透射光谱。所述光谱检测装置，通过更换所述反射模块和所述透射模块，实现了反射光谱检测和透射光谱检测的灵活切换，方便了实验研究和光谱测量。

主权项

1.一种光谱检测装置，用于检测样品的光谱进行反射式测量或透射式测量，其特征在于，所述光谱检测装置包括基座、发射器、探测器及光谱检测模块，所述发射器、探测器及光谱检测模块均安装于所述基座上，所述光谱检测模块根据需要可选择性地选用透射模块和反射模块：当所述光谱检测模块切换为所述样品的反射光谱测量的反射模块时，所述反射模块包括第一底板、第一样品支架、第一反射调节组件、第一反射件、第二反射调节组件及第二反射件，所述第一样品支架、第一反射调节组件及第二反射调节组件均可拆卸地安装于所述第一底板上，所述第一样品支架位于所述第一反射调节组件与第二反射调节组件之间，所述样品水平横置于所述第一样品支架上，所述样品与所述第一底板之间的距离分别小于所述第一反射件及所述第二反射件到所述第一底板的距离，所述第一反射件及所述第二反射件的焦点位于所述样品上，所述发射器对准所述第一反射件，所述探测器对准所述第二反射件，所述发射器发射电磁波，所述电磁波经所述第一反射件反射后沿着靠近所述第一底板的方向发射，并在所述样品表面反射后入射至所述第二反射件，所述第二反射件反射的电磁波被所述探测器接收以检测所述样品的反射光谱；当所述光谱检测模块切换为所述样品的透射光谱测量的透射模块时，所述透射模块包括第二底板、第二样品支架、第一透射调节组件、第二透射调节组件、第三反射件以及第四反射件，所述第二样品支架、第一透射调节组件及第二透射调节组件均可拆卸地安装于所述第二底板上，所述第二样品支架固定于所述第二底板上并位于所述第三反射件及第四反射件之间，所述样品竖直放置于所述第二样品支架上且所述样品到所述第一底板的距离与所述第三反射件及所述第四反射件到所述第一底板的距离相等，所述第三反射件及第四反射件的焦点同时位于所述样品上，所述发射器对准所述第三反射件，所述探测器对准所述第四反射件，所述发射器发射的电磁波经所述第三反射件反射后，将沿平行于所述第二底板的方向传播并汇聚于所述样品上并在所述样品表面透射后入射至所述第四反射件，所述第四反射件反射的电磁波被所述探测器接收以检测所述样品的透射光谱。