[发明专利]背透检测方法和背透检测设备在审
申请号: | 201310744057.8 | 申请日: | 2013-12-30 |
公开(公告)号: | CN104751165A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 曹琼;刘汝杰 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 康建峰;吴琼 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及背透检测方法和背透检测设备。该方法包括:获取对齐的正面图像和反面图像,从而获得由第一点和对应的第二点构成的像素对;确定正面图像和反面图像中的部分前景像素和部分背景像素;基于确定结果,针对以下像素对基于预定特征建模以形成四个模型:第一点和第二点是前景像素、第一点和第二点是背景像素、第一点是前景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素;针对未建模的像素对,根据其预定特征,计算其与四个模型的相似度,以确定其类型;将与确定为前景像素的第一点对应的、确定为背景像素的第二点判定为反面图像上的背透,将与确定为前景像素的第二点对应的、确定为背景像素的第一点判定为正面图像上的背透。 | ||
搜索关键词: | 检测 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种背透检测方法,该背透检测方法包括:获取已对齐的双面图像对中的正面图像和反面图像,其中针对所述正面图像中的每一个第一点已知在所述反面图像中与其对应的第二点,从而获得由所述第一点和对应的所述第二点构成的像素对;确定所述正面图像和所述反面图像中的部分前景像素和部分背景像素;基于上述确定结果,针对以下四种类型的像素对基于预定特征进行建模,以形成四个模型:第一点和第二点都是前景像素、第一点和第二点都是背景像素、第一点是前景像素且第二点是背景像素、第一点是背景像素且第二点是前景像素;针对未被建模的像素对,根据该像素对的预定特征,分别计算该像素对与所述四个模型的相似度,以确定该像素对的类型;将与被确定为前景像素的第一点对应的、被确定为背景像素的第二点判定为所述反面图像上的背透,将与被确定为前景像素的第二点对应的、被确定为背景像素的第一点判定为所述正面图像上的背透。
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