[发明专利]一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置有效
申请号: | 201310722566.0 | 申请日: | 2013-12-24 |
公开(公告)号: | CN103676243B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 闫岩;马禹;冯博 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 柴亮,张天舒 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种阵列基板组件及其检测方法和显示装置,属于显示技术领域,其可解决现有技术中的采用双边阵列栅极驱动的阵列基板的栅线信号延迟无法测量的问题。本发明的阵列基板组件包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线,所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接,第二端与第二驱动单元连接,第二信号线的一端延伸至印刷电路板,其中,第二信号线的延伸至印刷电路板的一端预留为测试点。检测方法包括选取待检测的第一信号线,选取一条第二信号线为第一检测线,第一信号线和第一检测线在第一交叉处相互交叉,并在第一交叉处将第一信号线和第一检测线导通;应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测。显示装置包括上述阵列基板组件。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 组件 及其 测量方法 显示装置 | ||
【主权项】:
一种阵列基板组件的检测方法,所述阵列基板包括多条相互交叉的第一信号线和第二信号线,所述第一信号线的第一端与第一驱动单元连接,第二端与第二驱动单元连接,第二信号线的一端延伸至印刷电路板,并预留为测试点,其特征在于,所述检测方法包括如下步骤:选取待检测的第一信号线,选取一条第二信号线为第一检测线,第一信号线和第一检测线在第一交叉处相互交叉,并在第一交叉处将第一信号线和第一检测线导通;应用所述测试点对待检测的第一信号线进行检测。
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