[发明专利]薄膜材料在轨暴露试验形变在线测试探头及其测试的方法有效

专利信息
申请号: 201310695323.2 申请日: 2013-12-17
公开(公告)号: CN103792179A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 史亮;全小平;李存惠;王鹢 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01B7/16
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 孟阿妮
地址: 730013 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种薄膜材料在轨暴露试验形变在线测试探头及其测试的方法,该探头包括支架,支架上设有至少一个试验样品,试验样品一端的上方设有第一盖板,另一端的上方设有第二盖板,下方设有第三盖板,第二盖板上设有发光二极管,发光二极管上设有第四盖板,第三盖板上设有通孔,通孔下方对应设有光电传感器,光电传感器设置在支架的端部,支架一端连接第一盖板,另一端连接第二盖板和第四盖板。该方法包括:进行标定及在线测试,在线测试包括:记录试验样品对应的光电传感器产生的电流,对比电流数据与试验样品在地面开展的标定数据,得到试验样品在轨随温度的线性长度变化情况。本发明可以对星用聚合物薄膜随温度变化产生的形变进行在线测试。
搜索关键词: 薄膜 材料 暴露 试验 形变 在线 测试 探头 及其 方法
【主权项】:
一种薄膜材料在轨暴露试验形变在线测试探头,其特征在于,包括支架,所述支架上设有薄膜材料在轨暴露试验的至少一个试验样品,所述试验样品一端的上方设有第一盖板,另一端的上方设有第二盖板,下方设有第三盖板,所述第二盖板上设有发光二极管,所述发光二极管上设有第四盖板,所述第三盖板上设有通孔,所述通孔下方对应设有光电传感器,所述光电传感器设置在支架的端部,所述第一盖板与所述支架的一端固定连接,所述支架的另一端固定连接所述第二盖板和所述第四盖板。
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