[发明专利]一种数控机床子系统可靠性影响度分析方法

摘要

发明涉及一种数控机床子系统可靠性影响度分析方法，属于数控机床技术领域,旨在弥补现有技术未考虑数控机床其余子系统的故障时间的扰动和试验截尾时间影响的不足，其步骤如下：1)读取数控机床运行记录表；2)读取子系统故障时间数据；3）建立数控机床系统可靠性功能框图，确定子系统可靠性关系；4）将数控机床其余子系统的故障时间的扰动及试验截尾时间影响按截尾数据处理；5）建立数控机床子系统可靠度模型；6）确定数控机床系统可靠度模型；7）计算数控机床子系统动态可靠性影响度；8）计算数控机床子系统核心可靠性影响度；本发明据此建立的数控机床系统可靠度模型与经验分布函数模型拟和相比，精度在5%以内，可以满足实际分析要求。

主权项

一种数控机床子系统可靠性影响度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：读取数控机床运行记录表，获取数控机床故障时间和数控机床可靠性试验时间，结合数控机床结构与功能将数控机床划分成数控机床各子系统；步骤2：读取需要分析的数控机床各子系统的故障时间，同时考虑数控机床其余子系统的故障时间的扰动和各试验截尾时间影响；步骤3：根据数控机床结构和工作原理建立数控机床系统可靠性功能框图，确定数控机床各子系统可靠性关系；步骤4：对每一个数控机床子系统，将数控机床其余子系统的故障时间的扰动及试验截尾时间影响按截尾数据处理；步骤5：对每一个数控机床子系统修正截尾数据对故障次序的影响，应用经验分布算法得到数控机床子系统可靠度模型；步骤6：根据数控机床系统可靠性功能框图和数控机床子系统可靠度模型，确定数控机床系统可靠度模型；步骤7：数控机床子系统动态可靠性影响度的计算：将数控机床系统可靠度模型对数控机床某子系统的导数定义为数控机床子系统动态可靠性影响度，数控机床子系统动态可靠性影响度根据数控机床系统可靠度模型和数控机床子系统可靠度模型计算，数控机床子系统动态可靠性影响度表达式为： I k = ∂ R sys ∂ R k = R 1 R 2 . . . R k - 1 R k + 1 . . . R n = R sys R k 式中，Ik—数控机床子系统动态可靠性影响度；k—数控机床子系统序号，k=1,2,…,N；Rk—数控机床子系统可靠度函数；Rsys—数控机床系统可靠度函数；步骤8：数控机床子系统核心可靠性影响度的计算：将数控机床子系统动态可靠性影响度Ik与数控机床子系统可靠度函数Rk之比定义为数控机床子系统核心可靠性影响度，数控机床子系统核心可靠性影响度表达式为： C k = ∂ R sys ∂ R k / R k = R 1 R 2 . . . R k - 1 R k + 1 . . . R n / R k = R sys R k 2 = I k R k 式中，Ck—数控机床子系统核心可靠性影响度。