[发明专利]一种滑动式测斜仪检测装置有效

专利信息
申请号: 201310670563.7 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN103674065B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 万顺平;杨卓;孙芳;徐锐;陈俊;张文鹏;刘宇薇;杨政;王金宁 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 代理人: 余长江
地址: 100070 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种滑动式测斜仪检测装置及检测方法,包括一测头夹具、一水平仪、一光学分度头以及一平台,所述光学分度头置于所述平台上,所述测头夹具安装于所述光学分度头上,所述测头夹具具有供测斜仪测头导轮滑动的导槽和两个相互垂直的基准面,其中一个基准面安装在所述光学分度头的主轴上,另一个基准面作为所述水平仪调整的基准。利用该装置测量时数据稳定,且基准与工程测量一致,可以检测出滑动式测斜仪系统极性、零偏值、标度因数、分辨率、示值误差、重复性等技术指标。
搜索关键词: 一种 滑动 式测斜仪 检测 装置
【主权项】:
一种滑动式测斜仪检测装置,其特征在于,包括一测头夹具、一水平仪、一光学分度头以及一平台,所述光学分度头置于所述平台上,所述测头夹具安装于所述光学分度头上,所述测头夹具具有供测斜仪测头导轮滑动的导槽,测斜仪测头放入该导槽内后,该导槽将测斜仪的导轮压紧,以提供测量基准,实现测头转动角度的精确变化;所述测头夹具还具有两个相互垂直的基准面,其中一个基准面安装在所述光学分度头的主轴上,另一个基准面作为所述水平仪调整的基准;所述水平仪用于对测头夹具上的基准平面找准,首先通过水平仪找到基准平面绝对水平的位置,进而找准作为测头测量基准的铅垂位置。
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