[发明专利]一种显微分析装置有效
| 申请号： | 201310642933.6 | 申请日： | 2013-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN104677865B | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 吴宗斌 | 申请（专利权）人： | 大连光耀辉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B21/36 |
| 代理公司： | 北京元周律知识产权代理有限公司11540 | 代理人： | 张莹 |
| 地址： | 116000 辽宁省大连市高新*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种显微分析装置，包括激光光源装置、光传导装置、随机光学重构显微装置、原子力显微装置、样品承载装置和信息整合输出装置。所述激光光源装置提供的光源束，由光传导装置导入光学重构显微装置，对样品承载装置上的待测样品进行光学重构显微成像；同时，原子力显微装置对同一位置进行原子力显微成像；信息整合输出装置将随机光学重构显微信息和原子力显微信息整合后输出。解决了现有原子力显微成像不能定性分析样品的问题，可广泛用于生物、高分子和材料领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显微 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种显微分析装置，其特征在于，包括激光光源装置(10)、光传导装置(12)、随机光学重构显微装置(14)、原子力显微装置(16)、样品承载装置(18)和信息整合输出装置(20)；所述激光光源装置(10)提供的光源束由光传导装置(12)导入光学重构显微装置(14)，对样品承载装置(18)上待测样品的某一位置进行光学重构显微成像；同时，原子力显微装置(16)对所述待测样品的同一位置进行原子力显微成像；信息整合输出装置(20)将随机光学重构显微装置(14)的成像信息和原子力显微装置(16)的成像信息经整合输出；所述随机光学重构显微装置(14)包括半透半反分光镜(140)、物镜(142)、反射镜(144)和检测器(146)；所述光源束进入光学重构显微装置(14)后，经半透半反分光镜(140)、物镜(142)照射在待测样品的某一位置上，样品发出的荧光经反射镜(144)达到检测器(146)上进行成像；所述样品承载装置(18)包括样品台(180)和方位控制器(182)；所述原子力显微装置(16)包括激光器(1640)；所述光传导装置(12)为一组折射镜片；激光光源装置(10)提供的光源束经折射后进入光学重构显微装置(14)；或所述光传导装置(12)为光纤传导装置，包含光路衰减器(120)、光纤耦合器(122)和光纤(124)；激光光源装置(10)提供的光源束经光路衰减器(120)和光纤耦合器(122)后，由光纤(124)导入光学重构显微装置(14)。
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