[发明专利]一种测量单个纳米粒子光谱的方法

摘要

本发明公开了一种测量单个纳米粒子光谱的方法。以光学显微镜为成像平台，以成像检测器为记录仪，以纳米粒子为检测对象，以光栅为识别手段，以滤光片为光谱校准、转换方式，高通量地测量单个纳米粒子的光谱。具体是：将纳米粒子置于载玻片上，将载玻片置于物镜前；在检测器前放置光栅进行光谱成像，记录单个纳米粒子的零级和一级光谱；在检测器前放置滤光片，以滤光片“切割”纳米粒子的一级光谱，则“切割”后的纳米粒子一级光谱的截止处波长与滤光片的截止波长相同，据此将纳米粒子的一级光谱表示方式从非波长单位转换成波长单位。降低了仪器复杂程度；仅凭一级条纹即能获得单个纳米粒子的光谱，提高了光谱采集通量，减少了操作时间。

主权项

一种测量单个纳米粒子光谱的方法，以光学显微镜为成像平台，以成像检测器为记录仪，以纳米粒子为检测对象，以光栅为识别手段，其特征在于：用滤光片进行光谱校准、转换，高通量地测量单个纳米粒子的光谱；具体步骤如下：（1）将纳米粒子置于载玻片上，将载玻片置于物镜前；（2）在检测器前放置光栅进行光谱成像，记录单个纳米粒子的零级和一级光谱；（3）在检测器前放置滤光片，以滤光片“切割”纳米粒子的一级光谱，记录“切割”后的纳米粒子一级光谱；（4）波长校准与转换：经滤光片“切割”的一级光谱其截止处波长与滤光片的截止处波长相同，据此将纳米粒子的一级光谱表示方式从非波长单位转换成波长单位。