[发明专利]光模块误码测试装置及方法

摘要

本发明涉及一种光模块误码测试装置及方法，包括两块RRU数字中频盘，分别记为RRUA和RRUB，所述数字中频盘包括光电转换模块、CPU模块、FPGA处理模块、Serdes模块和CLOCK模块，CPU模块与FPGA处理模块和上位PC机分别连接，FPGA处理模块、Serdes模块和光电转换模块依次连接，CLOCK模块与CPU模块、Serdes模块和FPGA处理模块分别相连，其中光电转换模块为待测的光模块，RRUA和RRUB的光电转换模块通过光纤相连接。本发明相对于利用误码测试仪测试误码而言，更接近工程应用，测试结果更加可靠，解决了RRU在不需要BBU配合也能进行光模块选型的问题，此外还具有通用性强，架构实现简单，资源少、成本低的特点，有利于提高系统在实际应用中的稳定性及可靠性。

主权项

一种光模块误码测试装置，其特征在于：包括两块RRU数字中频盘，分别记为RRUA和RRUB，所述数字中频盘包括光电转换模块、CPU模块、FPGA处理模块、Serdes模块和CLOCK模块，CPU模块与FPGA处理模块和上位PC机分别连接，FPGA处理模块、Serdes模块和光电转换模块依次连接，CLOCK模块与CPU模块、Serdes模块和FPGA处理模块分别相连，其中光电转换模块为待测的光模块，RRUA和RRUB的光电转换模块通过光纤相连接；所述CPU模块，用于支持系统控制和信息交互，包括配置FPGA处理模块和时钟模块，以及接受上位PC机的监控；所述FPGA处理模块，用于产生和对比数据；所述Serdes模块，用于完成数据的串并转换，同时改变数据的速率；所述时钟模块，用于向CPU模块、FPGA处理模块和Serdes模块提供时钟。