[发明专利]热像测量模式选择装置和热像测量模式选择方法在审
申请号: | 201310433486.3 | 申请日: | 2013-09-21 |
公开(公告)号: | CN103674279A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 王浩 | 申请(专利权)人: | 杭州美盛红外光电技术有限公司 |
主分类号: | G01J5/10 | 分类号: | G01J5/10;H04N5/33 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310030 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的热像测量模式选择装置、热像测量模式选择方法,涉及热像装置、热像处理装置,以及红外检测的应用领域。现有技术的热像装置,在不同的测量目的时,需要使用者来设置参考图像的构成数据类型或显示尺寸等参数,使操作变得繁琐和困难。本发明提供的热像测量模式选择装置、热像测量模式选择方法,提供通过选择测量模式来自动选择构成数据类型、位置规则、合成参数,使用者操作简单。 | ||
搜索关键词: | 测量 模式 选择 装置 方法 | ||
【主权项】:
热像测量模式选择装置,包括:获取部,用于获取热像数据;测量模式选择部,用于选择测量模式;显示控制部,用于控制使参考图像与所获取的热像数据生成的红外热像共同显示,所述参考图像位于红外热像中;其中,所述显示控制部根据测量模式选择部所选择的测量模式,来进行参考图像与红外热像的共同显示的控制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州美盛红外光电技术有限公司,未经杭州美盛红外光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310433486.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:热像记录控制装置和热像记录控制方法
- 下一篇:生产十二或十三根硅芯的高频线圈