[发明专利]一种磁控管测试系统及测试方法无效

专利信息
申请号: 201310432946.0 申请日: 2013-09-22
公开(公告)号: CN103472338A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 沈大贵 申请(专利权)人: 成都国光电气股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R23/02
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰;杨保刚
地址: 610000 四川省成都市经*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种磁控管测试系统及测试方法,所述测试系统包括,调制器、衰减桥路、本振信号源、混频器、示波器;所述磁控管测试方法,包括,(1)识别计算机与示波器连接状态的步骤;(2)检测被测信号是否输入示波器的步骤;(3)在相同温度条件下进行参数测试的步骤;(4)在不同温度条件下进行参数测试的步骤;(5)将步骤(3)和(4)中测试后的存储于存储器中的数据生成EXCEL文件。所述磁控管的测试系统及测试方法效率高、测试结果可靠且成本低并对频率进行了有效的保密处理。
搜索关键词: 一种 磁控管 测试 系统 方法
【主权项】:
一种磁控管测试系统,其特征是,包括—调制器:所述调制器分别与磁控管和示波器相连,为磁控管提供工作所需的调制脉冲信号和灯丝电压、灯丝电流、阳极脉冲电压、阳极平均电流,所述调制信号调制阳极脉冲电流、电压,使磁控管在电磁场的作用下发生振荡输出被测信号;所述调制器还提供示波器测试所需的同步信号;—衰减桥路:所述衰减桥路与磁控管相连,将被测信号衰减成与检波器、混频器输入功率匹配的被测信号并将衰减后的信号输出到检波器、混频器;—检波器:接收从衰减桥路输出的被测信号,检出被测信号的射频脉冲包络,并将射频脉冲包络传送到示波器;—本振信号源:为混频器提供本振信号,所述本振信号与经过衰减桥路衰减后的被测信号进行混频;—混频器:将经过衰减桥路衰减后的被测信号与本振信号进行混频,并将混频后的中频信号后输出至示波器;—示波器:显示中频信号和射频脉冲包络图形,通过包络图形获得被测信号功率、频率、上升时间、下降时间和前沿抖动参数值。
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