[发明专利]一种双光子激光共聚焦三维检测泥岩和致密砂岩中有机质组份分布和含量的方法有效
申请号: | 201310422526.4 | 申请日: | 2013-09-17 |
公开(公告)号: | CN103439302A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 索丽敏;孙先达;李舰 | 申请(专利权)人: | 黑龙江八一农垦大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N1/28;G01N1/32 |
代理公司: | 哈尔滨市文洋专利代理事务所(普通合伙) 23210 | 代理人: | 孙淑荣 |
地址: | 163000 黑龙江省大庆*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明涉及一种泥岩和致密砂岩中机质组份分布和含量的检测方法,具体涉及一种在油田勘探开发过程中对以泥岩和致密砂岩为主的非常规储层中机质组份分布和含量的检测方法。本发明采用双光子激光共聚焦显微镜对泥岩和致密砂岩中机质组份进行扫描分析,通过光谱分离技术可以不破坏样品的情况下,把不同组份的有机质进行分类三维空间展示。本发明在保持了样品的原始结构状态下,研究泥岩和致密砂岩储层中有机质的特征。 | ||
搜索关键词: | 一种 光子 激光 聚焦 三维 检测 泥岩 致密 砂岩 有机质 分布 含量 方法 | ||
【主权项】:
一种双光子激光共聚焦三维检测泥岩和致密砂岩中有机质组份分布和含量的方法,包括下列步骤:1)冷冻条件下进行样品制备:切片之前样品置入液氮中冷冻保存,切片后样品需要放置在0℃‑5℃以下环境风干,制作样品时,用T‑2或T‑2型502胶进行胶结,磨片时,粗磨至2mm,分析表面抛光处理;2)采用双光子激光共聚焦方法,双光子激光共聚焦显微镜对泥岩或致密砂岩进行分析:将样品放在载物台上,抛光面向上,将激光扫描共聚焦显微镜的镜头调整到观察样品上方,选择710nm激发光源扫描样品,用长焦距物镜,选择10倍数物镜进行观察,记录观察图像;步骤2)中所述双光子激光共聚焦方法的具体应用和结果:a)轻质组份标准样品的光谱采集:选择710nm波长的激光作为激发光源,对轻质组份标准样品进行扫描,选择XYλ扫描模式,接收400nm‑700nm范围的轻质组份特征光谱数据体,并保存;b)重质组份标准样品的光谱采集,选择710nm波长的激光作为激发光源,对重质组份标准样品进行扫描,选择XYλ扫描模式,接收400nm‑700nm范围的重质组份特征光谱数据体,并保存;c)干酪根组份标准样品的光谱采集,选择710nm波长的激光作为激发光源,对干酪根组份标准样品进行扫描,选择XYλ扫描模式,接收400nm‑700nm范围的干酪根组份特征光谱数据体,并保存;d)待检测样品的光谱采集,选择710nm波长的激光作为激发光源,对待检测样品进行扫描,选择XYλZ扫描模式,样品厚度50um,层间距1um,接收400nm‑700nm范围的待检测样品特征光谱数据体,并保存;e)待检测样品中轻质组份分离,用光谱分离软件打开a)中的轻质组份特征光谱数据体,采用光谱分离的方法分离d)中待检测样品特征光谱数据体,保存分离出来的轻质组份三维数据体;f)待检测样品中重质组份分离,用光谱分离软件打开b)中的重质组份特征光谱数据体,采用光谱分离的方法分离d)中待检测样品特征光谱数据体,保存分离出来的重质组份三维数据体;g)待检测样品中干酪根组份分离,用光谱分离软件打开c)中的干酪根组份特征光谱数据体,采用光谱分离的方法分离d)中待检测样品特征光谱数据体, 保存分离出来的干酪根组份三维数据体;3)有机质组份三维重建:把步骤e)、f)、g)中的轻质、重质和干酪根三维数据体通过计算机技术进行三维重建,得到轻质、重质和干酪根在样品中的空间分布位置和形态;4)有机质组份量化分析,利用软件把3)中三维重建后的数据分别进行轻质、重质和干酪根含量计算、即得到轻质、重质和干酪根含量值。
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