[发明专利]一种LCD总体检测缺陷方法

摘要

本发明公开了一种LCD总体检测缺陷方法，包含如下步骤：步骤1，图像预处理；步骤2，黑白模式图像缺陷分割；步骤3，点缺陷和线缺陷判定；步骤4，灰模式图像缩放；步骤5，图像重建；步骤6，点状异物缺陷检测；步骤7，区域状异物缺陷检测；步骤8，线状异物缺陷检测。本发明对图像进行高斯平滑去除噪声，再求梯度值，根据梯度幅值判定初步确定边缘点，最后精确定位边缘位置并细化，使效果更清晰。

主权项

一种LCD总体检测缺陷方法，其特征在于，包含如下步骤：步骤1，图像预处理：计算阈值，提取待检测图像Ix中的目标区域图像Iroi；步骤2，黑白模式图像缺陷分割：使用背景减除法获取光照均匀的图像，获取待检测图像中的目标区域图像Iroi的二值图像Ibin；步骤3，点缺陷和线缺陷判定：找出二值图像Ibin中所有点缺陷和线缺陷；步骤4，灰模式图像缩放：利用双线性插值算法将灰模式下的目标区域图像Iroi缩放得到图像OI；步骤5，图像重建：利用奇异值分解方法对图像OI进行重建得到重建图像CI，并用图像OI减去重建图像CI获取差图DI；步骤6，点状异物缺陷检测：对获取的差图DI进行阈值化缺陷分割，并通过轮廓检测统计轮廓数量并计算缺陷的总面积，判断是否存在点状异物缺陷；步骤7，区域状异物缺陷检测：将差图DI分成num个窗口，对每个窗口进行区域异物缺陷检测，统计每个窗口中的平均灰度值和方差，num取值为大于等于2的自然数；步骤8，线状异物缺陷检测：对差图DI使用边缘检测算法进行边缘检测，判断是否发生线状异物缺陷。