[发明专利]一种具有双层钝化膜的AlGaN基紫外探测器及制备方法无效

专利信息
申请号: 201310325082.2 申请日: 2013-07-30
公开(公告)号: CN103413839A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 刘秀娟;张燕;李向阳;王立伟;卢怡丹;常超 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/18;C23C16/34;H01L31/105
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种具有双层钝化膜的AlGaN基紫外探测器及制备方法,所述的双层钝化膜为利用光刻技术保留在器件表面和台面侧面的上、下两层的双层Si3N4薄膜,其制备工艺为:在AlGaN基紫外探测器表面和台面侧面采用感应耦合等离子体化学气相沉积方法沉积双层Si3N4薄膜,首先沉积一层应力与AlGaN层应力相近的下层Si3N4薄膜,然后沉积一层致密的上层Si3N4薄膜,待上述双层膜沉积以后通过光刻和刻蚀工艺保留器件表面和台面侧面的Si3N4双层膜。本发明实现了AlGaN基紫外探测器中钝化膜的低应力、高致密度、耐腐蚀的优势。
搜索关键词: 一种 具有 双层 钝化 algan 紫外 探测器 制备 方法
【主权项】:
一种具有双层钝化膜的AlGaN基紫外探测器,器件结构为:在蓝宝石衬底(1)上依次为AlN缓冲层(2)、n型AlGaN层(3)、i型AlGaN层(4)、p型AlGaN层(5)、下层Si3N4钝化膜(8)、上层Si3N4钝化膜(9),n欧姆接触电极(6)位于n型AlGaN层(3)上,p欧姆接触电极(7)位于p型AlGaN层(5)上,其特征在于,在AlGaN基紫外探测器的结构的台面表面以及台面侧面有两层钝化膜,即下层Si3N4钝化膜(8)和上层Si3N4钝化膜(9);所述的下层Si3N4钝化膜(8)的膜厚为1000‑2000埃,所述的上层Si3N4钝化膜(9)的膜厚为2000‑3000埃。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310325082.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top