[发明专利]发光二极管测试装置有效

专利信息
申请号: 201310316166.X 申请日: 2013-07-25
公开(公告)号: CN103575940A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 曹鸣臬;刘岩;胡益民;敬刚;刘淮源;张志甜;陆兆隆;佘露;曹广忠;汤皎宁;肖文鹏;袁文龙;张超;朱惠忠;梁荣;丁钊 申请(专利权)人: 深圳清华大学研究院
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/26;G01R31/44
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 孔丽霞
地址: 518057 广东省深圳市南山区高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种发光二极管测试装置,用以对发光二极管进行测试,该发光二极管测试装置包括承载发光二极管的固定基板及装置于固定基板上用以分别与发光二极管导电性连接的电连接部,每一电连接部包括分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部,第一电连接部与第二电连接部将发光二极管夹置其间,第一电连接部能够相对于第二电连接部沿远离或靠近第二电连接部方向滑动,第二电连接部能够相对于第一电连接部沿远离或靠近第一电连接部方向滑动,从而实现取出或装入发光二极管。与现有技术相比,本发明的发光二极管测试装置通过第一、第二电连接部能够分别沿相对方向滑动从而实现取出或装入发光二极管,方便装卸,进而具有较高的测试工作效率。
搜索关键词: 发光二极管 测试 装置
【主权项】:
一种发光二极管测试装置,用以对若干发光二极管进行测试,其特征在于:该发光二极管测试装置包括承载所述发光二极管的固定基板及装置于该固定基板上用以分别与发光二极管导电性连接的若干电连接部,每一电连接部包括分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部,该第一电连接部与第二电连接部将所述发光二极管夹置其间,该第一电连接部能够相对于该第二电连接部沿远离或靠近第二电连接部方向滑动,该第二电连接部能够相对于该第一电连接部沿远离或靠近第一电连接部方向滑动,从而实现取出或装入所述发光二极管。
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