[发明专利]用于在熔融金属中进行取样的测量探针

摘要

发明涉及一种用于在熔融金属中，尤其是在熔融钢中进行取样的测量探针，所述测量探针具有布置在支撑管的浸入端上的测量头，由此所述测量头包括至少一个样品室，由此所述样品室包括进料道，所述进料道的一端通向样品室，并且所述进料道的第二端包括从测量头的正面突出的进料口，所述测量头的正面背对支撑管，并且进料口被保护罩覆盖，其特征在于保护罩被布置在进料道的外面、沿进料方向处在进料口的上游并且离进料口一定距离处，由此保护罩覆盖了进料口，并且由此保护罩并没有在横向上完全地包围进料道。

主权项

一种用于在熔融金属中、尤其是在熔融钢中进行取样的测量探针，所述测量探针具有布置在支撑管（27）的浸入端上的测量头（9），由此所述测量头（9）包括至少一个样品室（15），由此所述样品室（15）包括进料道（14），所述进料道（14）的一端通向所述样品室（15），并且所述进料道（14）的第二端包括从所述测量头（9）的正面突出的进料口（24），所述测量头（9）的正面背对所述支撑管（27），并且所述进料口（24）被保护帽（18）覆盖，其特征在于保护罩（19）被布置在所述进料道（14）的外面、沿进料方向处在所述进料口（24）的上游并且离所述进料口（24）一定距离处，由此所述保护罩（19）覆盖了所述进料口（24），并且由此所述保护罩（19）并没有在横向上完全地包围所述进料道（14）。