[发明专利]一种板级电路测试性模型自动生成方法

摘要

本发明公开了一种板级电路测试性模型自动生成方法，对板级电路信息设置XML标签，将板级电路信息存储为XML文件，其中各层电路板中模块间的连接存储为邻接矩阵，根据邻接矩阵中记录的连接关系将各层电路板中的所有模块进行排序，再根据得到的模块顺序依次确定每个模块的位置坐标，完成各层电路板模型的初始布局，再采用布局优化方法，将相邻两列间的交叉连线数减少至无法减少，得到各层电路板模型的最终布局。采用本发明可以自动生成板级电路测试性模型，降低人员工作量，而且通过模块排序和布局优化，得到和板级电路测试性模型清晰明了，易于观察分析。

主权项

一种板级电路测试性模型自动生成方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取板级电路信息，包括各层电路板信息，各层电路板所含的故障模块的故障属性、测点模块的测试属性以及模块间的连接关系；S2：对步骤S1中获取的各种板级电路信息设置XML标签，以XML文件格式保存，其中各层电路板中模块间的连接关系存储为邻接矩阵；S3：对每个层次电路板模型的所有模块进行排序，排序方法包括以下步骤：S3.1：为每个模块赋予排序参考值初始值为0；S3.2：按故障模块存储顺序遍历所有故障模块，根据邻接矩阵，当连线从当前故障模块连接到其他故障模块时，如果其他故障模块的排序参考值与当前故障模块的排序参考值之差大于等于1，则不作任何操作，否则将其他故障模块的排序值加1；当连线从其他故障模块连接到当前故障模块，如果其他故障模块的排序参考值与当前故障模块的排序参考值之差小于等于1，则不作处理，否则其他故障模块的排序参考值减1；故障模块遍历结束后，测点模块的排序参考值等于连接它的第一个故障模块的排序参考值+1；S3.3：按所有模块排序参考值从小到大对模块进行排序；S4：根据步骤S3中得到的每个层次的排序结果依次确定各模块在每个层次布局中的位置坐标，生成每个层次的初始布局，初始布局生成方法为：S4.1：模块序号x=0；S4.2：初始化模块位置坐标，iCol=0，iRow=0，其中iCol为列序号，表示模块所在列；行序号iRow代表模块在列中的水平位置；S4.3：令模块x的位置坐标Col_x=iCol，Row_x=iRow，其中Col_x表示模块x的列序号，Row_x表示模块x在列中的行序号；S4.4：模块序号x=x+1；S4.5：判断模块x是否等于该层模型中的模块总数N，如果等于，结束初始布局，如果小于，进入步骤S4.6；S4.6：判断模块x与iCol列中的所有模块是否有连线，如果有，进入步骤S4.7，如果没有，进入步骤S4.8；S4.7：令iCol=iCol+1，iRow=0，返回步骤S4.3；S4.8：令iRow=iRow+1，iCol不变，返回步骤S4.3；S5：根据步骤S4得到的初始布局，利用布局优化方法进行调整，使每列模块之间的交叉连线数减少至无法减少，得到板级电路测试性模型的最终布局，完成板级电路测试性模型的生成。