[发明专利]方波调制实现空间测角的方法有效

专利信息
申请号: 201310269890.1 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN103344199A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 陆卫国;吴易明;肖茂森;李春艳;王海霞 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 胡乐
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种方波调制实现空间测角的方法,旨在实现高精度、稳定测角。该方法中,线偏振光经过外加的一种具体方波磁光调制信号的磁光玻璃后,成为携带调制信号的调制偏振信号光;调制偏振信号光经过渥拉斯顿棱镜,分为两路偏振方向相互垂直的信号光Io、Ie,分别被两个探测器接收,对接收到的信号输出至信号处理电路,进行特定的优化解算,从而得出渥拉斯顿棱镜光轴与起偏器光轴之间相对初始夹角45°的偏离方位角α。本发明消除了光源波动、两路信号增益差异、调制度mf波动的影响及Wollaston棱镜出射光强非线性的影响,提高了装置实用性,使整个装置具有测角精度高、测角速度快、稳定可靠等特点。
搜索关键词: 方波 调制 实现 空间 方法
【主权项】:
1.方波调制实现空间测角的方法,包括以下步骤:1)准直光束经起偏器后成为线偏振光,光强为I0/2;2)线偏振光经过外加方波磁光调制信号的磁光玻璃后,成为携带调制信号的调制偏振信号光;所述方波磁光调制信号为:θ=VBLf(t)=12mff(t)---(1)]]>其中:f(t)=1t[0,T2)-1t(T2,T]---(2)]]>mf=2VBL为调制度,V是磁光玻璃的维尔德常数;L是磁光玻璃的长度;B为磁感应强度;3)所述调制偏振信号光经过渥拉斯顿棱镜,分为两路偏振方向相互垂直的信号光Io、Ie,分别被两个探测器接收,其中渥拉斯顿棱镜的光轴和起偏器的光轴含有相对初始夹角45°的偏离方位角α,则:当时,光电探测器接收到的光强信号分别为Io+、Ie+Io+=NokoI02[1-sin(2α+mf)]=NokoI02(1-sin2αcosmf-cos2αsinmf)Ie+=NekeI02[1+sin(2α+mf)]=NekeI02(1+sin2αcosmf+cos2αsinmf)---(3)]]>t(T2,T]]]>时:Io-=NokoI02[1-sin(2α-mf)]=NokoI02(1-sin2αcosmf+cos2αsinmf)Ie-=NekeI02[1+sin(2α-mf)]=NekeI02(1+sin2αcosmf-cos2αsinmf)---(4)]]>No,Ne为非线性系数,ko,ke为电路的增益系数;4)两个探测器接收到的信号输出至信号处理电路,进行以下解算:对(3)、(4)式作以下运算:U1=Ie++Ie-Ie+-Ie-U2=Io++Io-Io--Io+---(5)]]>令:A=2U1+U2=cos2αsinmfB=U1-U2U1+U2=sin2αcosmf---(6)]]>则所求的渥拉斯顿棱镜光轴与起偏器光轴之间相对初始夹角45°的偏离方位角α为:
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