[发明专利]基于局部二维特征的拼接图像检测方法及系统无效
| 申请号： | 201310261621.0 | 申请日： | 2013-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN103310236A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 李翔;李建华;裘瑛;黄豫蕾;王佳凯;陈继国;王士林;林祥;陈璐艺;冯皪魏 | 申请（专利权）人： | 上海数据分析与处理技术研究所;上海交通大学;上海鹏越惊虹信息技术发展有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/66 | 分类号： | G06K9/66;G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王锡麟;王毓理 |
| 地址： | 201112 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种图像处理及信息安全技术领域的基于局部二维特征的拼接图像检测方法及系统，通过将图像采用不同边长的正方形分割后进行分块DCT变换，并将得到的分块DCT系数采用局部二维特征的方式进行描述并合并为完整检测特征后，采用分类器进行分类。本发明能够兼顾检测精度和检测复杂度，检测精确度可以达到89.9%。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 局部 二维 特征 拼接 图像 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种基于局部二维特征的拼接图像检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：对待处理数据集中的任一图像进行多尺度的分块DCT变换，得到的分块DCT系数矩阵，并对分块DCT系数全部取绝对值，得到分块DCT系数绝对值矩阵；步骤二：采用局部二维特征来表征图像拼接造成的统计特征的变化，将分块DCT系数绝对值矩阵转化为局部二维特征直方图；步骤三：步骤一中取不同的正方形小块的边长值则对应得到代表各种尺度的分块DCT系数的绝对值矩阵，并根据步骤二的操作得到若干个对应的局部二维特征直方图；把各个局部二维特征直方图所生成的特征串联起来构成一个完整的统计特征，然后利用SVM分类器进行学习和分类。
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