[发明专利]一种近场磁偶源高密度的几何电阻率测深法无效

专利信息
申请号: 201310258562.1 申请日: 2013-06-26
公开(公告)号: CN103323883A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 席振铢;雷凯;龙霞;王鹤;冯万杰 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10
代理公司: 长沙市融智专利事务所 43114 代理人: 黄美成
地址: 410083 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种近场磁偶源高密度的几何电阻率测深法,通过给闭合线圈提供固定频率的交变电流形成磁偶极子,以形成的磁偶极子作为场源;采用磁偶极子场源作为发射线圈,磁场测量传感器作为接收线圈,通过改变发射线圈与接收线圈之间的距离来观测近场磁偶源电磁场的二次磁场垂直分量,获得与收发距离对应深度的视电阻率,最后利用反演法实现电阻率测深,即求得地下不同深度处介质的电阻率;本发明便于在地形复杂的工区开展工作,可同时用多个接收线圈接收信号,提高了工作效率;且计算磁场垂直分量的几何因数仅与收发距和层厚度有关,而与发射信号的频率无关,计算公式简便,测深视电阻率计算精度高。
搜索关键词: 一种 近场 磁偶源 高密度 几何 电阻率 测深
【主权项】:
1.一种近场磁偶源高密度的几何电阻率测深法,其特征在于,通过给闭合线圈提供固定频率的交变电流形成磁偶极子,并以所形成的磁偶极子作为场源;采用磁偶极子作为发射线圈,磁场测量传感器作为接收线圈,通过改变发射线圈与接收线圈之间的距离来观测近场磁偶源电磁场的二次磁场垂直分量,获得与收发距离对应深度的视电阻率,最后利用反演法实现电阻率测深,即求得地下不同深度处介质的电阻率;所述视电阻率是指均匀半空间模型的二次磁场垂直分量与水平层状介质模型的二次磁场垂直分量之比ρz=HZsHzs;]]>其中,水平层状介质模型是指将地面看成是水平无限大平面,且在地面以下的介质是水平层状分布,每一层中的介质都为各向同性介质,水平层状介质中二次磁场垂直分量为Qi表示水平层状介质模型中第i层介质的几何因数,ki为电磁波通过第i层介质的波数,σi为第i层介质的电导率,μ为介质的磁导率,ω为发射线圈的发射信号的角频率,M为发射线圈的磁矩;Qi=r4hti2+r2-r4hbi2+r2]]>其中,hti和hbi分别为水平层状介质模型中第i层顶部和底部分别到地球表面的深度,r为发射线圈与接收线圈之间的距离;所述中,采用均匀半空间模型是指将地面看成是水平无限大平面,地面以下充满均匀且各向同性的导电介质,其二次磁场垂直分量为其中,σ为介质的电导率,μ为介质的磁导率,ω为发射线圈的发射信号的角频率,M为发射线圈的磁矩,r为发射线圈与接收线圈之间的距离,ρ为介质电阻率,ρ=1/σ;视电阻率的表达式为:设定均匀半空间中的电阻率ρ=1。
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