[发明专利]桥壳残余应力检测方法及装置有效
申请号: | 201310236905.4 | 申请日: | 2013-06-14 |
公开(公告)号: | CN103278273A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 石光林;朱林;陆维钊;孙有平;温全明;李旺珍 | 申请(专利权)人: | 广西工学院 |
主分类号: | G01L1/25 | 分类号: | G01L1/25 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 卢宏 |
地址: | 545006 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明旨在提供一种桥壳残余应力检测方法。该检测方法使用X射线对桥壳残余应力进行检测,首先使桥壳在自身轴向上自转,使得需要检测的测点位置到达检测位置,之后调节测量头,使测量头与桥壳的距离到达检测范围之内,水平进给测量头至测量点位置,俯仰调节测量头,使得X射线射出方向与桥壳测量点所在局部表面保持垂直,完成测量点的应力测量,水平进给测量头,完成桥壳轴向上个测量点的应力测量,重复上述步骤完成整个桥壳的应力测量。本发明还提供了一种桥壳残余应力检测装置,该装置结构简单,操作便利。本发明提供的方法和装置能够能够很好的实现对桥壳整体表面残余应力的检测。 | ||
搜索关键词: | 残余 应力 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种桥壳残余应力检测方法,其特征在于包括以下步骤:A、X射线残余应力测量头(1)竖直上升,留出空间,桥壳(2)在自身轴向上自转,使得需要检测的测点位置桥壳位置位于最顶端到达检测位置,这时停止自转,保持桥壳位置稳定;B、X射线残余应力测量头(1)竖直下降,使得X射线残余应力测量头(1)与桥壳(2)的距离到达检测距离之内;C、X射线残余应力测量头(1)水平进给到测量点位置,在桥壳(2)的径向上进行俯仰调节,使得X射线射出方向与桥壳(2)测量点所在局部表面保持垂直,进行X射线应力检测,获得该点的应力参数;D、X射线残余应力测量头(1)水平进给到各个轴向上的测量点,测试各点的应力参数;E、重复步骤A、B、C、D,从而完成整个桥壳的应力参数检测。
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