[发明专利]多测试梁的片外弯曲测试微结构无效
| 申请号： | 201310233220.4 | 申请日： | 2013-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN103335892A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 陶俊勇;刘彬;王晓晶;张云安;程红伟;陈循;任志乾 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N3/20 | 分类号： | G01N3/20;G01N3/38 |
| 代理公司： | 长沙新裕知识产权代理有限公司 43210 | 代理人： | 刘熙 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多测试梁的片外弯曲测试微结构，由正方形的外框架、测试梁、支撑梁和正方形的质量块组成；所述质量块通位于外框架内，外框架与质量块之间通过支撑梁和测试梁连接，所述支撑梁和测试梁呈中心对称分布；所述质量块的中心设有对准孔。本发明的有益效果是可以同时完成对多根梁进行弯曲强度或疲劳特性的测试，实现高效测试，具有结构简单，制作成本低，夹持和对中简单，测试成本低且高效可靠等优点，还能避免大挠度时压头滑动的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 弯曲 微结构 | ||
【主权项】：
一种多测试梁的片外弯曲测试微结构，其特征是由正方形的外框架、测试梁、支撑梁和正方形的质量块组成；所述质量块通位于外框架内，外框架与质量块之间通过支撑梁和测试梁连接，所述支撑梁和测试梁呈中心对称分布；所述质量块的中心设有对准孔。
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