[发明专利]一种荧光粉实用发光性能测量方法有效
| 申请号： | 201310229035.8 | 申请日： | 2013-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN103323438A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 徐艳芳;李路海;张国生;李修 | 申请（专利权）人： | 北京印刷学院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 耿小强 |
| 地址： | 102600 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光粉实用发光性能测量方法，利用激发光源发出的激发光激发待测荧光粉，发出受激发射光；采集未被吸收的剩余激发光与荧光粉发射光的混合光，得到混合光的光谱曲线并进行平滑处理；将混合光的光谱曲线从荧光粉发光波谱范围中的波峰位置分解为前半部分和后半部分；后半部分光谱曲线作为荧光粉发射光的后半部分光谱曲线；对混合光的前半部分光谱曲线采用高斯函数和费米函数的叠加进行拟合；采用模拟退火算法求解拟合函数中的各常数，并分解出荧光粉发射光的前半部分光谱曲线；将得到的荧光粉发射光前半部分光谱曲线及荧光粉发射光的后半部分光谱曲线结合在一起，得到荧光粉在激发光下的发射光谱，据此，计算其光度和色度量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光粉 实用 发光 性能 测量方法 | ||
【主权项】：
一种荧光粉实用发光性能测量方法，包括如下步骤：（1）利用激发光源发出的激发光激发待测荧光粉，使其发射出受激发射光；（2）采集未被吸收的剩余激发光与荧光粉发射光的混合光，得到混合光的光谱曲线；（3）对所述混合光的光谱曲线进行平滑处理；（4）将混合光的光谱曲线从荧光粉发光光谱范围中的波峰位置分解为前半部分和后半部分；后半部分光谱曲线作为荧光粉发射光的后半部分光谱曲线；（5）对混合光的前半部分光谱曲线采用高斯函数和费米函数的叠加进行拟合；得到激发光光谱的拟合函数，及荧光粉发射光前半部分光谱曲线的拟合函数；（6）采用模拟退火算法求解荧光粉发射光前半部分光谱曲线的拟合函数中的各常数；（7）将得到的荧光粉发射光前半部分光谱曲线的拟合函数及荧光粉发射光的后半部分光谱曲线结合在一起得到荧光粉在激发光下的发射光谱，据此，计算其光度和色度量。
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