[发明专利]测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201310192546.7 申请日: 2013-05-22
公开(公告)号: CN104181451A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 陈琏锋;朱俊豪 申请(专利权)人: 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;常大军
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测试装置及测试方法,测试装置用以执行测试程序,以对电路板上的多个元件进行第一测试,以及对电路板进行第二测试。测试装置包括第一模块、第二模块及信号传输线。第一模块包括控制单元、信号产生单元、信号处理单元、信号扩充单元及供电单元。控制单元产生第一控制信号或第二控制信号。信号产生单元产生电流信号或电压信号。信号处理单元产生数值信号。信号扩充单元产生第二数据信号。供电单元产生工作电压。第二模块包括测试地址指定单元及信号隔离单元。测试地址指定单元进行定址。信号隔离单元进行噪声免疫处理。信号传输线连接第一模块与第二模块。
搜索关键词: 测试 装置 方法
【主权项】:
一种测试装置,用以执行一测试程序,以对一电路板上的多个元件进行一第一测试,以及对该电路板进行一第二测试,其特征在于,该测试装置包括:一第一模块,包括:一控制单元,用以接收一指令,并依据该指令,以产生一第一控制信号或一第二控制信号,其特征在于,该指令用以指示该测试装置进行该第一测试或该第二测试;一信号产生单元,耦接该控制单元,用以接收该第一控制信号,并依据该第一控制信号,以产生一电流信号或一电压信号;一信号处理单元,耦接该控制单元,用以接收该电路板所产生的一测量信号,并对该测量信号进行一数值计算,以产生一数值信号;一信号扩充单元,耦接该控制单元,用以接收该电路板所产生的一第一数据信号,并对该第一数据信号进行一信号扩充,以产生一第二数据信号;以及一供电单元,耦接该控制单元,用以接收该第二控制信号,并依据该第二控制信号,以产生一工作电压;一第二模块,包括:一测试地址指定单元,耦接该电路板,用以对该些元件进行一定址,并依据该定址,以回传该测量信号给该信号处理单元;以及一信号隔离单元,耦接该测试地址指定单元,用以对该测量信号进行一噪声免疫处理;以及一信号传输线,耦接于该信号产生单元与该信号隔离单元之间,用以连接该第一模块与该第二模块;其特征在于,,当该测试装置进行该第二测试时,该供电单元产生该工作电压给该信号产生单元、该信号处理单元、该信号扩充单元、该测试地址指定单元、及该信号隔离单元。
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