[发明专利]用于检查过孔的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201310167190.1 申请日: 2013-05-08
公开(公告)号: CN103389309B 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 李活石 申请(专利权)人: 韩华泰科株式会社
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 代理人: 韩明星,鲁恭诚
地址: 韩国庆尚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于利用相机确定过孔的设备和方法。所述方法包括(a)捕获过孔的区域的图像;(b)从所述图像提取边缘;(c)通过在边缘上执行霍夫变换检测最大值;(d)计算以最大值的位置作为中心的圆的表面面积;(e)通过将最大值、位置和圆的表面面积与基准值进行比较来检查过孔的状态。
搜索关键词: 用于 检查 方法 设备
【主权项】:
一种检查材料中形成的过孔的方法,所述方法包括:(a)捕获过孔的区域的图像;(b)从所述图像提取边缘;(c)通过对于边缘执行霍夫变换来检测最大值;(d)计算以所述最大值的位置作为中心的圆的表面面积;(e)通过将最大值、位置和圆的表面面积与基准值进行比较来检查过孔的状态,其中,所述基准值包括第四基准值,第四基准值被设置为确定过孔的位置,将具有最大值的过孔的位置与基准过孔的位置之间的欧几里德距离与第四基准值进行比较,当所述欧几里德距离大于第四基准值时,确定过孔偏离根据规定的位置,其中,在圆的表面面积内的像素具有低的二进制值的情况下,通过使用二进制编码的图像,相对于最大值的位置试图延伸圆的表面面积,其中,所述基准值还包括表明过孔的存在的第一基准值,当最大值小于第一基准值且在过孔中不存在具有低于预定二进制值的二进制值的像素时,确定过孔不存在和材料有缺陷。
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