[发明专利]具有集成二极管的二极管触发可控硅整流器有效
申请号: | 201310143062.3 | 申请日: | 2013-04-23 |
公开(公告)号: | CN103378010A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | J·P·迪萨罗;R·J·小戈捷;李军俊 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;张亚非 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及具有集成二极管的二极管触发可控硅整流器。用于可控硅整流器的器件结构、设计结构和制造方法。在器件区中形成第一导电类型的阱,所述器件区由绝缘体上半导体衬底的器件层限定。在所述阱中形成第二导电类型的掺杂区。在所述器件区中形成可控硅整流器的阴极和二极管的阴极。所述可控硅整流器包括所述阱的第一部分以及由所述掺杂区的第一部分构成的阳极。所述二极管包括所述阱的第二部分以及由所述掺杂区的第二部分构成的阳极。 | ||
搜索关键词: | 具有 集成 二极管 触发 可控 硅整流器 | ||
【主权项】:
一种制造器件结构的方法,所述方法包括:在第一器件区中形成第一导电类型的第一阱;在所述第一阱中形成第二导电类型的第一掺杂区;在所述第一器件区中形成第一可控硅整流器的阴极;以及在所述第一器件区中形成第一二极管的阴极,其中所述第一可控硅整流器包括所述第一阱的第一部分以及由所述第一掺杂区的第一部分构成的阳极,以及所述第一二极管包括所述第一阱的第二部分以及由所述第一掺杂区的第二部分构成的阳极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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