[发明专利]一种确定显示器残像等级的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310078918.3 申请日: 2013-03-12
公开(公告)号: CN103165057A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 占玙娟 申请(专利权)人: 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 230011 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种确定显示器残像等级的方法及装置,用以解决现有技术中只能通过人眼观测确定显示器的残像等级,准确性较低的问题。本发明实施例提供的一种确定残像等级的方法,包括:确定进行残像测试后显示器显示的残像的亮度变化指数及所述残像的面积指数;根据确定的所述亮度变化指数及面积指数确定所述显示器的残像等级。由于残像的亮度变化指数与面积指数都是可以客观确定的,因而采用本发明实施例可以不必采用人眼观测的方式,而从客观上确定显示器的残像等级,提高了确定显示器残像等级的准确性。
搜索关键词: 一种 确定 显示器 等级 方法 装置
【主权项】:
一种确定显示器残像等级的方法,其特征在于,该方法包括:确定进行残像测试后显示器显示的残像的亮度变化指数及所述残像的面积指数;所述残像的亮度变化指数为进行残像测试后显示器显示的残像的亮度差值与进行残像测试前显示器的亮度值的百分比;所述残像的面积指数是残像面积占用显示器显示面积的百分比;根据确定的所述亮度变化指数及面积指数确定所述显示器的残像等级。
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