[发明专利]一种片上电容校正装置和方法

摘要

本发明公开了一种片上电容校正装置和方法，所述装置包括：已校正电阻、开关电容阵列、比较器电路、逻辑控制电路、以及一端接地、另一端与开关电容阵列相连的开关；具体的，输入电流I流经已校正电阻，产生电压V₁；输入电流kI对开关电容阵列充电T时间，产生电压V₂；比较器电路对V₁与V₂进行比较，并将比较结果输出至逻辑控制电路；逻辑控制电路在V₁小于等于V₂时，输出校正结束信号；否则，控制所述开关闭合，待所述开关电容阵列放电至零后，断开所述开关，以及控制所述开关电容阵列减小设定量的电容值后，重复上述充电、比较过程。本发明降低了比较器电路的难度，减小了电容阵列所需调试的范围，提高了电容校正的精度。

主权项

一种片上电容校正装置，其特征在于，包括：已校正电阻、开关电容阵列、比较器电路、逻辑控制电路、以及开关，所述开关一端接地，另一端与所述开关电容阵列相连；输入电流I流经所述已校正电阻，产生电压V₁；输入电流kI对所述开关电容阵列充电T时间，产生电压V₂；其中，k为正整数；所述比较器电路对V₁与V₂进行比较，并将比较结果输出至逻辑控制电路；所述逻辑控制电路在V₁小于等于V₂时，输出校正结束信号；否则，控制所述开关闭合，待所述开关电容阵列放电至零后，断开所述开关，以及控制所述开关电容阵列减小设定量的电容值后，重复上述充电、比较过程。