[发明专利]基于纤栅干涉结构的二维弯曲矢量传感器有效
申请号: | 201310050941.1 | 申请日: | 2013-02-07 |
公开(公告)号: | CN103123254A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 张伟刚;张珊珊;耿鹏程;严铁毅;王恺 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300071 天津市南开*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于纤栅干涉结构的二维弯曲矢量传感器,即由一段错位熔接的光纤与长周期光纤光栅级联而成,能够在垂直于纤轴的平面上同时测量弯曲大小和方向。该矢量传感器具有较宽的干涉自由光谱范围;干涉峰带宽与光栅谐振峰带宽相近,但光栅谐振峰具有独立性。由于光栅谐振峰与干涉峰对温度的敏感性不同,故可通过系数矩阵法有效消除弯曲与温度的交叉敏感影响。该弯曲矢量传感器具有灵巧型、低成本、制作简便、易测量、可消除温度影响等优点,在物体形变及形貌探测等方面具有潜在的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 基于 干涉 结构 二维 弯曲 矢量 传感器 | ||
【主权项】:
一种基于纤栅干涉结构的二维弯曲矢量传感器,即由一段错位熔接的光纤与长周期光纤光栅级联而成,能够在垂直于纤轴的平面上同时测量弯曲大小和方向。其特点在于:错位熔接量的大小,决定对光场耦合效率的高低;错位量大,则耦合效率高,反之亦然。光栅折射率的调制深度,决定谐振峰处耦合强度的大小;调制越深,耦合强度大,反之亦然。
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