[发明专利]基于非局部均值的SUSAN边缘检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201310047546.8 申请日: 2013-02-06
公开(公告)号: CN103150725A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 张旭明;詹轶;吴意;金娇英;王瑞;丁明跃;熊有伦;尹周平;王瑜辉 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于非局部均值的SUSAN边缘检测方法,包括:计算初始SUSAN边缘响应图像的步骤:对于图像中的每一像素(x,y),取以其为中心的圆形模板Ψ,采用图像块刻画Ψ中的每个像素与(x,y)的像素比较差异,依据像素比较差异计算(x,y)的初始SUSAN边缘响应R0;计算最终SUSAN边缘响应图像的步骤:对于R0中的每一像素(x',y'),搜索与其具有结构相似性的邻域,通过计算初始SUSAN边缘响应的相似度加权平均得到(x',y')的最终SUSAN边缘响应R;边缘像素判定步骤:若像素(x',y')对应的R(x′,y′)大于阈值,则其为边缘像素,否则为非边缘像素。本发明还提供了实现上述方法的系统。本发明将非局部均值用于SUSAN边缘检测,大大提高抗噪性,获得更高的边缘检测精度。
搜索关键词: 基于 局部 均值 susan 边缘 检测 方法 系统
【主权项】:
1.一种SUSAN边缘检测方法,包括下述步骤:第1步计算待检测图像I的初始SUSAN边缘响应图像,其过程为:(1.1)对于待检测图像I中的每一个像素(x,y),提取以其为中心的圆形模板Ψ;(1.2)利用式I分别计算各圆形模板Ψ中的每个像素(p,q)与所在圆形模板的中心像素(x,y)之间的像素比较差异c(x,y,p,q):c(x,y,p,q)=exp(-(Φ*||IP(p,q)-IP(x,y)||22T2)3)]]>式I其中,P(p,q)为以圆形模板Ψ中像素(p,q)为中心的图像块,P(x,y)为以圆形模板Ψ中像素(x,y)为中心的图像块,图像块P(p,q)和P(x,y)大小相同,Np为图像块P(p,q)包含的像素个数,IP(p,q)和IP(x,y)分别表示图像块P(p,q)和P(x,y)中各像素的灰度值,*表示卷积,||·||2表示求欧氏距离,T为边缘检测阈值,20≤T≤35,Φ为与图像块P(p,q)大小相同的自适应核;(1.3)依据像素比较差异c(x,y,p,q)利用式II计算各圆形模板的中心像素的初始SUSAN边缘响应R0(x,y),即得初始SUSAN边缘响应图像R0式II其中,n(x,y)=Σ(p,q)Ψc(x,y,p,q),]]>Rt=34nmax(x,y),]]>nmax(x,y)为圆形模板中各像素对应的n(x,y)最大值;第2步计算待检测图像I的最终SUSAN边缘响应图像,其过程为:(2.1)对于初始SUSAN边缘响应图像R0中的每一非零初始SUSAN边缘响应值的像素(x',y'),提取以该点为中心的方形搜索窗口Ω;(2.2)利用式III分别计算各方形搜索窗口Ω中的每个像素(p',q')与所在方形搜索窗口的中心像素(x',y')之间的相似度ω(x',y',p',q'):ω(x,y,p,q)=1Z(x,y)exp(-G*||RP(p,q)0-RP(x,y)0||22hNLM)]]>式III其中,Z(x',y')为使得的归一化常量,hNLM为衰减系数,分别为图像块P(p',q')和P(x',y')中各像素的灰度值,P(p',q')为SUSAN边缘响应图像R0中以(p',q')为中心的图像块,P(x',y')为SUSAN边缘响应图像R0中以(x',y')为中心的图像块,G为高斯核;(2.3)分别从各方形搜索窗口Ω内选取部分相似度较大的像素;(2.4)利用式IV分别计算各方形搜索窗口Ω的中心像素(x',y')的最终SUSAN边缘响应R(x′,y′),K为步骤(2.3)选取的像素数,(in,jn)为步骤(2.3)选取的第n个像素;R(x,y)=Σn=1Kω(x,y,in,jn)R0(in,jn)Σn=1Kω(x,y,in,jn)]]>式IV第3步若各方形搜索窗口Ω的中心像素(x',y')对应的最终SUSAN边缘响应R(x′,y′)大于预先设定的边缘判定阈值TR,则判定像素(x',y')为边缘像素,否则像素(x',y')为非边缘像素。
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