[发明专利]光学特性测量装置有效

专利信息
申请号: 201310030361.6 申请日: 2013-01-25
公开(公告)号: CN103575508B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 大久保和明;白岩久志 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J1/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种光学特性测量装置,包括内壁具有反射面的半球部以及平面部,该平面部被配置成堵塞半球部的开口,在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗,该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗,该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置,用于从半球部的内部取出光。
搜索关键词: 光学 特性 测量 装置
【主权项】:
一种光学特性测量装置,具备:半球部,其内壁具有反射面;以及平面部,其被配置成堵塞上述半球部的开口,在上述半球部的内壁侧具有反射面,其中,上述平面部包括第一窗,该第一窗用于在包含上述半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源,上述半球部和上述平面部中的至少一方包括多个第二窗,该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置,用于从上述半球部的内部取出光,该光学特性测量装置还具备导光部,该导光部将上述多个第二窗与用于接收上述半球部的内部的光的受光部光学连接,上述导光部包括合成部,该合成部用于将来自上述多个第二窗各自的光结合后将光向上述受光部引导。
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