[发明专利]光学测定装置和光学测定方法无效
| 申请号： | 201310018020.7 | 申请日： | 2013-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN103226094A | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 后藤健次;山田英明 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 光学测定装置和光学测定方法。在第1光学测定装置（1A）中，从光源（10）射出的光在偏振光部（20）中被设为线偏振光，并入射到被检体（A）。透过被检体（A）的透射光被正交分离部（30）正交分离，被正交分离部（30）正交分离的光被两个受光部（40（40A、40B））接收。然后，通过控制部（100）判定透射光的光量，使用由透射光量判定部判定的光量对受光部（40）接收的受光电平之差进行归一化，然后，通过旋光角计算部（150）计算旋光角。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光学测定装置，其具有：正交分离部，其对线偏振光透过被检体后的透射光进行正交分离；至少两个受光部，它们接收由所述正交分离部正交分离后的光；以及旋光角计算部，其具有判定所述透射光的光量或该光量的预定比例的光量的透射光量判定部，使用由所述透射光量判定部判定的光量，对所述受光部接收到的受光电平之差进行归一化，然后计算旋光角。
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