[发明专利]用于直接表面安装的裸露芯片封装无效
申请号: | 201280027904.2 | 申请日: | 2012-04-05 |
公开(公告)号: | CN103703549A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | F·于;L·莱特;C-T·芬;S·霍尔顿 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 封装的半导体器件(100)包括包含衬底(112)的半导体芯片(110),其包括具有包含有源电路(114)的顶部(113)和底部(116)的衬底,在所述衬底的所述底部上直接连接至少一个背部金属层(118)。包括具有封装在成型材料内的芯片焊盘(125)和多条引线(127)的成型材料(132)的封装(130),其中引线包括包含接合部分(127(a)(1))的暴露部分(127(a))。半导体芯片的顶部连接至芯片焊盘,而且封装包括将背部金属层沿着封装的底面暴露的间隙。接线将半导体芯片的顶部上的焊盘耦合至引线。接合部分、沿着封装底面的成型材料和背部金属层相对于彼此全部基本位于一个平面。 | ||
搜索关键词: | 用于 直接 表面 安装 裸露 芯片 封装 | ||
【主权项】:
一种封装的半导体器件,其包括:半导体芯片,其包括具有包含有源电路的顶部和底部的衬底和在所述衬底的所述底部上的至少一个背部金属层,其中所述背部金属层直接附着到所述半导体芯片的所述底部,并且所述背部金属层的区域与所述半导体芯片的所述底部的区域匹配;封装,其包括具有芯片焊盘和多条引线的成型材料,所述芯片焊盘和多条引线被封装入所述成型材料内,其中所述多条引线包括含有接合部分的暴露部分;其中所述半导体芯片的所述顶部连接到所述芯片焊盘,并且其中所述封装包括将所述背部金属层沿着所述封装的底部暴露的间隙;和接线,其将所述半导体芯片的所述顶部上的焊盘耦合至所述多条引线;其中,所述接合部分、沿着所述封装的所述底部的所述成型材料和所述背部金属层相对于彼此全部基本位于一个平面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德克萨斯仪器股份有限公司,未经德克萨斯仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280027904.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造