[实用新型]一种三维位姿探测装置有效

专利信息
申请号: 201220707944.9 申请日: 2012-12-19
公开(公告)号: CN203024778U 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 张力平;孙安;刘克;薛培培 申请(专利权)人: 长安大学;江苏德佐电子科技有限公司;江苏安德信超导加速器科技有限公司;南京大学
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01B11/00
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 710064 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种三维位姿探测装置,包括二维位置敏感探测器、凸透镜、发射板,所述发射板上的点光源发出光线通过所述凸透镜在所述二维位置敏感探测器的光敏面上成像为清晰点,所述发射板在中心和四角共设置五个所述点光源,且相邻两个角落的所述点光源的距离为20mm。本实用新型的优点是将二维位置敏感探测器添加光学装置进行改装,用于三维空间的位姿检测,并通过发射板的布置,结合测量方法协调工作,完成空间探测和精准测量;探测装置结构简单,控制容易,测量精确度高。
搜索关键词: 一种 三维 探测 装置
【主权项】:
一种三维位姿探测装置,其特征在于:包括二维位置敏感探测器(1)、凸透镜(2)、发射板(3),所述发射板(3)上的点光源(4)发出光线通过所述凸透镜(2)在所述二维位置敏感探测器(1)的光敏面(5)上成像为清晰点,所述发射板(3)在中心和四角共设置五个所述点光源(4),且相邻两个角落的所述点光源(4)的距离为20mm。
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