[实用新型]一种用于检测不规则结构形位公差的检测装置有效

专利信息
申请号: 201220630379.0 申请日: 2012-11-26
公开(公告)号: CN202928486U 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 安建国;张政;余晓辉 申请(专利权)人: 成都航天模塑股份有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/20
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 刘珍
地址: 610100 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种用于检测不规则结构形位公差的检测装置,包括底板和检测部分,其中检测部分由支撑块、滑轨和检测块组成,该检测装置是在支撑块上固定一滑轨,检测块可沿滑轨水平滑动,同时检测块的检测面完全模拟所要检测的结构型面,检测面的工作部分根据所要检测的结构型面所要求的公差大小做成通止结构。当检测块的通端能顺利通过所检测的结构型面,并在止端能阻止检测块通过时,则该结构的检测型面合格,否则为不合格。
搜索关键词: 一种 用于 检测 不规则 结构 公差 装置
【主权项】:
一种用于检测不规则结构形位公差的检测装置,包括底板(5)和检测部分(1),其特征在于:所述检测部分(1)由支撑块(2)、滑轨(3)和检测块(4)组成,所述检测部分(1)通过支撑块(2)固定安装在底板(5)上,所述滑轨(3)固定安装在支撑块(2)上,所述检测块(4)配合安装在滑轨(3)上;所述检测块(4)的检测面(8)与所检测结构型面相同,所述检测面(8)的工作部分(9)为通止结构,所述通止结构由通端(6)和止端(7)组成。
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