[实用新型]一种模拟/数模混合信号处理芯片的修调装置

摘要

本实用新型提供的一种模拟/数模混合信号处理芯片的修调装置，装置设置于该芯片中，包括：当测量得到芯片的参数偏差之后，检测齐纳二极管阵列中各齐纳二极管状态的检测模块；依据当芯片的参数偏差和齐纳二极管状态生成的修调信号生成控制信号的控制器；依据接收到的工作模式选择信号确定为对应的工作模式，依据控制信号对齐纳二极管进行击穿或模拟击穿的齐纳二极管阵列模块。在芯片封装前不进行晶圆级的测试，在封装完成后，该修调装置依据测量得到的该芯片的参数偏差和齐纳二极管阵列的状态生成修调信号，对齐纳二极管阵列模块中的齐纳二极管进行击穿，以此细微的改变模拟信号参数，实现了对封装后的芯片进行修调，提高了芯片的合格率。

主权项

一种模拟/数模混合信号处理芯片的修调装置，其特征在于，所述装置设置于所述芯片中，包括：当测量得到所述芯片的参数偏差之后，检测齐纳二极管阵列中各齐纳二极管状态的检测模块；与所述检测模块相连，依据当所述芯片的参数偏差和所述齐纳二极管状态为全部未击穿时生成的第一修调信号生成第一控制信号，或依据当所述芯片的参数偏差和所述齐纳二极管状态为部分击穿时生成的第二修调信号生成第二控制信号的控制器；分别与所述控制器和所述检测模块相连，依据接收到的第一工作模式选择信号确定为第一工作模式，依据所述第一控制信号对齐纳二极管阵列中的齐纳二极管分别进行击穿修调，或者，依据接收到的第二工作模式选择信号确定为第二工作模式，依据所述第二控制信号对所述齐纳二极管进行模拟击穿，当所述模拟击穿结果满足第一预设条件时，依据接收到的第一工作模式选择信号确定为第一工作模式，并依据所述第二控制信号对齐纳二极管阵列中的齐纳二极管分别进行击穿修调的齐纳二极管阵列模块。