[实用新型]自动测量批量微控晶振特性的测试系统

摘要

本实用新型公开了一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统，其包括恒温温箱、频率测试设备、控制装置以及外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路。本实用新型的测试系统可自动完成所有温度点下恒温温箱中全部待测微控晶振的频率采集及温度电压数据对应表的数据采集，全程自动化进行，大大的提高了测试效率及产品的出厂合格率。

主权项

一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统，包括外部控制设备、控制装置、恒温温箱以及频率测试设备，其特征在于：所述控制装置内设一级控制电路，所述一级控制电路连接且受控于所述外部控制设备；所述恒温温箱内设若干测试板及一与所述一级控制电路相连以控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头，每个所述测试板上设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括受控于所述一级控制电路的二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路，所述第一选择电路和第二选择电路均与所述二级总控单片机相连且受控于所述二级总控单片机；所述频率测试设备与所述一级控制电路相连以对被选中晶振进行频率测试并将测试结果经由所述一级控制电路送至所述外部控制设备。